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广义上的半导体检测设备
发布时间：2024-10-27
前道检测设备又包括量测类和缺陷检测类，量测类包括椭偏仪四探针、原子力显微镜、热波系统、相干探测显微等，缺陷检测类包括光学显微镜、电子显微镜等;而后道检测设备主要包括分选机、测试机、探针台。
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发布时间：2024-10-27
前道检测设备又包括量测类和缺陷检测类，量测类包括椭偏仪四探针、原子力显微镜、热波系统、相干探测显微等，缺陷检测类包括光学显微镜、电子显微镜等;而后道检测设备主要包括分选机、测试机、探针台。
2021-01-14
2021-01-14
2021-01-14
2021-01-14
2019-02-02
2019-02-02
2019-01-29
2019-01-29
2019-01-29
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